两者均涉及激光技术应用，用户需求的扫频光源与激光测距的光幕准直透镜设计、硬件电路技术方向存在技术关联，尤其在光学系统设计和激光控制方面有较高相似性。

光电探测器检测需配合光源实现高精度检测，扫频光源的光谱可调特性可提升检测设备的良品率，与需求中聚焦共聚焦技术的目标存在技术协同性。

成像芯片需配合光源实现高分辨率图像采集，扫频光源的超大视野特性可能与成像芯片的应用场景（如显微成像）存在技术互补性。

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